HDFA-III CT特性測(cè)試儀

產(chǎn)品別稱

HDFA-III變頻式互感器綜合測(cè)試儀、互感器伏安特性綜合測(cè)試儀、CT伏安特性綜合測(cè)試儀、CT伏安特性測(cè)試儀、PT伏安特性測(cè)試儀、互感器伏安特性測(cè)試儀、伏安特性變比極性綜合測(cè)試儀、伏安特性測(cè)試儀、伏安特性綜合測(cè)試儀、伏安特性測(cè)試儀、XUJIT特性綜合測(cè)試儀、互感器分析儀

HDFA-III CT特性測(cè)試儀

產(chǎn)品特點(diǎn)

1、功能全面，既滿足各類CT（如：保護(hù)類、計(jì)量類、TP類）的勵(lì)磁特性（即伏安特性）、變比、極性、二次繞組電阻、二次負(fù)荷、比差以及角差等測(cè)試要求，又可用于各類PT電磁單元的勵(lì)磁特性、變比、極性、二次繞組電阻、比差等測(cè)試。

2、  自動(dòng)給出拐點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、儀表保安系數(shù)（FS）、二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、飽和及不飽和電感等CT、PT參數(shù)。

3、  測(cè)試滿足GB1208（IEC60044-1）、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等各類互感器標(biāo)準(zhǔn)，并依照互感器類型和級(jí)別自動(dòng)選擇何種標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。

4、  基于先進(jìn)的低頻法測(cè)試原理，能應(yīng)對(duì)拐點(diǎn)高達(dá)30KV的CT測(cè)試。

5、  界面友好美觀，全中文圖形界面。

6、  裝置可存儲(chǔ)1000組測(cè)試數(shù)據(jù)，掉電不丟失。

7、  測(cè)試簡(jiǎn)單方便，一鍵完成CT直阻、勵(lì)磁、變比和極性測(cè)試，而且除了負(fù)荷測(cè)試外，CT其他各項(xiàng)測(cè)試都是采用同一種接線方式。

8、  易于攜帶，裝置重量<9Kg。

技術(shù)參數(shù)